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    ZEISS SPECTRUM II掃描儀

    2020-08-26 13:35:00
    ZEISS SPECTRUM II掃描儀
    詳細介紹:

    ZEISS SPECTRUM II

    主要性能

    蔡司RDS-C5鉸接探頭底座,采用我們的XDT多點探頭或Renishaw TP20觸發探頭。確保測量復雜位置的角度特征。鉸接式探頭底座提供雙向+/- 180度旋轉,允許5度臺階角度操作,可使探頭達到5184個不同角度位置。

    它也可以配置連接光譜和XDT直接測量一般棱鏡特征。

    CAA (computer aided Precision Correction,簡稱CAA)保證了對機床動態變形的計算機輔助誤差補償

    機器技術

    花崗巖臺面為該測量機奠定了堅實的結構基礎。

    蔡司空氣軸承,四面環繞,保證了更好的穩定性和測量精度。

    控制柜、軟件、探頭等部件均采用先進的材料和技術,產品質量上乘。

    標準的計算機獨立控制面板允許您手動定位沒有計算機,只是通過控制桿旁邊的測量機。當CNC運行時,速度旋鈕可隨時控制速度。


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